|
PARTICLE AND PARTICLE SYSTEMS CHARACTERIZATION |
|
- Issn : 0934-0866
- İlişkili Issn : 1521-4117
|
|
John Wiley & Sons Ltd. |
|
United Kingdom |
| |
- Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED)
- Scopus
- Academic Search Premier
- Aerospace Database
- Communication Abstracts
- Compendex
- INSPEC
- Metadex
- Civil Engineering Abstracts
|
|
- Mühendislik ve Teknoloji
- Kimya Mühendisliği ve Teknolojisi
- Temel Bilimler
- Fizik
- Yoğun Madde 1:Yapısal, Mekanik ve Termal Özellikler
- Yüzeyler ve arayüzeyler; İnce filmler ve nanosistemler
- Kimya
- Fizikokimya
- Mühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
- Temel Bilimler (SCI)
- Mühendislik
- Malzeme Bilimi
- Kimya
- Fizik
- MÜHENDİSLİK, KİMYASAL
- MALZEME BİLİMİ, ÇOKDİSİPLİNLİ
- MALZEME BİLİMİ, KARAKTERİZASYON VE TEST
- KİMYA, FİZİKSEL
- NANOBİLİM VE NANOTEKNOLOJİ
- Fizik Bilimleri
- Genel Kimya
- Genel Malzeme Bilimi
- Yoğun Madde Fiziği
|