Akademik Veri Yönetim Sistemi
Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje, 2021 - 2022
Molar yüzde olarak 75TeO2-25ZnO ve 70TeO2-30ZnO (TZ) camları geleneksel eritme-tavlama yöntemi kullanılarak sentezlenmiştir. Sentezlenen TZ camları, Termiyonik Vakum Ark (TVA) sistemi kullanılarak mikroskop camları üzerine ince bir film olarak depolanmıştır. Depolanmış TZ ince filmlerin yapısı ve sentezlenmiş TZ dökme (bulk) cam numunelerin özellikleri incelenerek karşılaştırılmıştır. TVA ile depolanan TZ ince filmlerin ve sentezlenen dökme (bulk) TZ cam numunelerinin yapısal özellikleri, X-ışını kırınım (XRD) analizi, Raman spektroskopisi ve Fourier Dönüşümü Kızılötesi Spektroskopisi (FT-IR) kullanılarak belirlendi. TZ ince filmlerin morfolojik özellikleri, alan emisyon taramalı elektron mikroskobu (FE-SEM) görüntüleri ve atomik kuvvet mikroskobu (AFM) kullanılarak elde edildi. Son olarak, 350-1000 nm aralığında ultraviyole görünür spektrofotometri (UV-VIS) ile sentezlenen TZ cam bulk yapısı ve optik özellikleri elde edildi. Depolanan TZ ince film numuneleri UV-VIS analizinde geçirgenlik göstermedi. XRD ve Raman analizi, TZ ince filmlerin, sınırlı kristalizasyon ile sentezlenmiş dökme (bulk) TZ camlara benzer amorf bir yapıya sahip olduğunu gösterdi. Sonuçlar, az sayıda polikristal oluşumlu homojen ve amorf TZ ince film yapılarını göstermektedir. Tauc çizimleri ile sentezlenen 75TeO2-25ZnO bulk cam için bant aralığı doğrudan geçiş hesaplamaları ile 2.31 ile 2.90 eV, 70TeO2-30ZnO bulk cam için 2.35 ile 2.77eV ve dolaylı geçiş hesaplamalarında 75TeO2-25ZnO bulk cam için 2.07 ile 2.90 eV, 70TeO2-30ZnO bulk cam için 1.98 ile 2.45 eV olarak bulunmuştur.
Anahtar Kelimeler: Plazma, TVA, TeO2-ZnO, Camsı yapılar