Hızlı Yakınsayan Göç Yönteminin Farklı Test Fonksiyonları için İncelenmesi

KUVAT G., ADAR N., CANBEK S., SEKE E.

12. Elektrik Elektronik Bilgisayar Biyomedikal Mühendisliği Ulusal Kongresi ve Fuarı, Eskişehir, Türkiye, 14 - 18 Kasım 2007

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Eskişehir
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet