Ni-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı ile Karakterizasyonu ve Faz Dönüşümü Tespiti

ÖZTÜRK M. M., DOĞAN B.

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi, vol.6, pp.1-11, 2019 (Peer-Reviewed Journal)

• Publication Type: Article / Article
• Volume: 6
• Publication Date: 2019
• Doi Number: 10.35193/bseufbd.549878
• Journal Name: Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
• Journal Indexes: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Page Numbers: pp.1-11
• Open Archive Collection: AVESIS Open Access Collection
• Eskisehir Osmangazi University Affiliated: Yes