Ni-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı ile Karakterizasyonu ve Faz Dönüşümü Tespiti

ÖZTÜRK M. M., DOĞAN B.

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi, cilt.6, ss.1-11, 2019 (TRDizin)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 6
• Basım Tarihi: 2019
• Doi Numarası: 10.35193/bseufbd.549878
• Dergi Adı: Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi
• Derginin Tarandığı İndeksler: TR DİZİN (ULAKBİM)
• Sayfa Sayıları: ss.1-11
• Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet