Characterization of Boron Thin Films Obtained by TVA Technology

Musa G., Vladoıu R., Cıupına V., Lungu C., Mustata I., Pat S., ...Daha Fazla

The 4th National Conference ‘New Research Trends in Material Science’ ARM (Romanian Association of Materials)-4, Constanta, Romanya, 4 - 06 Eylül 2005, ss.517, (Özet Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Constanta
  • Basıldığı Ülke: Romanya
  • Sayfa Sayıları: ss.517
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet