Characterization of Seebeck Coefficient, Electrical Resistivity and Average Grain Size of Ge2Sb2Te5 Thin Films at High Temperatures

Adnane L., DİRİSAĞLIK F., Cil K., Cywar A., Zhu Y., Lam C., ...Daha Fazla

Material Research Society (MRS) Fall Meeting 2017, Boston, Amerika Birleşik Devletleri, 26 Kasım - 01 Aralık 2017, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Boston
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet