Phase-Change Materials the Challenges for TEM


Creative Commons License

Tripathi S., Janish M., DİRİSAĞLIK F., Cywar A., Zhu Y., Jungiohann K., ...Daha Fazla

Microscopy and Microanalysis (MM) 2018, Amerika Birleşik Devletleri, 5 - 09 Ağustos 2018, cilt.24, ss.1904-1905

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 24
  • Doi Numarası: 10.1017/s1431927618010000
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.1904-1905
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet