Phase-Change Materials the Challenges for TEM

Creative Commons License

Tripathi S., Janish M., DİRİSAĞLIK F., Cywar A., Zhu Y., Jungiohann K., ...Daha Fazla

Microscopy and Microanalysis (MM) 2018, Amerika Birleşik Devletleri, 5 - 09 Ağustos 2018, cilt.24, ss.1904-1905, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Cilt numarası: 24
  • Doi Numarası: 10.1017/s1431927618010000
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Sayfa Sayıları: ss.1904-1905
  • Açık Arşiv Koleksiyonu: AVESİS Açık Erişim Koleksiyonu
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet