A New Approach for Nanoindentation Using Multiprobe AFM System

ÇİNAR E., Sahin F., Yablon D.

2014 IEEE 14TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANOTECHNOLOGY (IEEE-NANO), Toronto, Kanada, 14 - 21 Ağustos 2014, ss.49-53, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Toronto
  • Basıldığı Ülke: Kanada
  • Sayfa Sayıları: ss.49-53
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Hayır