Resistance Drift and Crystallization in Suspended and On-OxidePhase Change Memory Line Cells


Gorbenko A., Noor N., Muneer S., Khan R. S., DİRİSAĞLIK F., Cywar A., ...Daha Fazla

The 19th IEEE International Conferenceon Nanotechnology IEEE-NANO 2019, Macau SAR, Çin, 22 - 26 Temmuz 2019, ss.417-420

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Macau SAR
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.417-420
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet