Resistance Drift and Crystallization in Suspended and On-OxidePhase Change Memory Line Cells

---

Gorbenko A., Noor N., Muneer S., Khan R. S., DİRİSAĞLIK F., Cywar A., ...Daha Fazla

The 19th IEEE International Conferenceon Nanotechnology IEEE-NANO 2019, Macau SAR, Çin, 22 - 26 Temmuz 2019, ss.417-420, (Tam Metin Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
• Basıldığı Şehir: Macau SAR
• Basıldığı Ülke: Çin
• Sayfa Sayıları: ss.417-420
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet