Ensemble learning application for textile defect detection

---

Atıf İçin Kopyala

Guder O., Isik S., Anagün Y.

International Journal of Applied Methods in Electronics and Computers, cilt.11, sa.3, ss.145-150, 2023 (Hakemli Dergi)

• Yayın Türü: Makale / Tam Makale
• Cilt numarası: 11 Sayı: 3
• Basım Tarihi: 2023
• Doi Numarası: 10.58190/ijamec.2023.41
• Dergi Adı: International Journal of Applied Methods in Electronics and Computers
• Derginin Tarandığı İndeksler: Index Copernicus, Sobiad Atıf Dizini
• Sayfa Sayıları: ss.145-150
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet