In Situ XRD Measurements and Simulations to Determine Grain Sizes in GeSbTe at Various Annealing Temperatures

Cil K., Woods Z., Adnane L., Cywar A., Dirisağlık F., Zhu Y., ...Daha Fazla

2015 MRS Fall Meeting & Exhibit, Massachusetts, Amerika Birleşik Devletleri, 29 Kasım - 04 Aralık 2015

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Massachusetts
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Hayır