Short and Long Time Resistance Drift Measurement in Intermediate States of Ge2Sb2Te5 Phase Change Memory Line Cells

---

Noor N., Khan R. S., Muneer S., Adnane L., Ramadan R., DİRİSAĞLIK F., ...Daha Fazla

MRS 2017 Spring Meeting, Phoenix, Amerika Birleşik Devletleri, 17 - 21 Nisan 2017, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Phoenix
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet