Investigation of Resistance Drift in Ge2Sb2Te5 Phase Change Memory Line Celss at Low Temperatures-Contributions of Charge Trapping

Talukder A. H., Khan R. S., Nyugen K., Nadolny M., Noor N., DİRİSAĞLIK F., ...Daha Fazla

Material Research Society (MRS) Spring Meeting 2019, Phoenix, Amerika Birleşik Devletleri, 22 - 26 Nisan 2019

  • Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
  • Basıldığı Şehir: Phoenix
  • Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet