Investigation of Resistance Drift in Ge2Sb2Te5 Phase Change Memory Line Celss at Low Temperatures-Contributions of Charge Trapping

---

Talukder A. H., Khan R. S., Nyugen K., Nadolny M., Noor N., DİRİSAĞLIK F., ...Daha Fazla

Material Research Society (MRS) Spring Meeting 2019, Phoenix, Amerika Birleşik Devletleri, 22 - 26 Nisan 2019, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Şehir: Phoenix
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet