Semi-Supervised Robust Deep Neural Networks for Multi-Label Classification

SARIBAŞ H., UZUN B., BENLİGİRAY B., EKER O., ÇEVİKALP H.

IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR), 16 - 20 Haziran 2019, (Tam Metin Bildiri)

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet