Mikroişlemci kontrollü X-ışınları ölçüm sistemi


Tezin Türü: Yüksek Lisans

Tezin Yürütüldüğü Kurum: Eskişehir Osmangazi Üniversitesi, FEN BİLİMLERİ ENSTİTÜSÜ, Türkiye

Tezin Onay Tarihi: 2000

Öğrenci: MURAT KELLEGÖZ

Danışman: İSMAİL ÖZKAN