Characterization of Seebeck Coefficient and Electrical Resistivity of Ge2Sb2Te5 Thin Films

Adnane L., DİRİSAĞLIK F., ÇİL K., Cywar A., Zhu Y., Lam C., ...Daha Fazla

International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS) 2016, Amerika Birleşik Devletleri, 7 - 09 Aralık 2016, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet