Exploiting Lithography Limits for Hardware Security Applications


Khan R. S., Noor N., Jin C., Muneer S., DİRİSAĞLIK F., Cywar A., ...Daha Fazla

The 19th IEEE International Conferenceon Nanotechnology IEEE-NANO 2019, Macau SAR, Çin, 22 - 26 Temmuz 2019, ss.9-12 identifier

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Doi Numarası: 10.1109/nano46743.2019.8993902
  • Basıldığı Şehir: Macau SAR
  • Basıldığı Ülke: Çin
  • Sayfa Sayıları: ss.9-12
  • Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet