Characterization of Seebeck Coefficient and Electrical Resistivity of Ge2Sb2Te5 Thin Films

---

Adnane L., DİRİSAĞLIK F., ÇİL K., Cywar A., Zhu Y., Lam C., ...Daha Fazla

International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS) 2016, Amerika Birleşik Devletleri, 7 - 09 Aralık 2016, (Özet Bildiri)

• Yayın Türü: Bildiri / Özet Bildiri
• Basıldığı Ülke: Amerika Birleşik Devletleri
• Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Adresli: Evet